El microscopi electrònic és un aparell que permet de fer observacions de la matèria a escales molt més petites que la microscòpia òptica. Es diferencia dels microscopis òptics perquè utilitzen electrons en comptes de fotons.

Es tracta de partícules amb un comportament dual, és a dir que obren alhora com a partícula i com a ona, i també com una ona electromagnètica amb una longitud d'ona molt més petita que la dels fotons, la qual cosa permet d'obtenir una més bona resolució de les imatges. El flux primari d'electrons pot controlar-se amb l'ús de lents electromagnètiques, que se situen sobre el canó. Ernst Ruska va ser el primer a construir un microscopi electrònic l'any 1931.^[1] i el primer microscopi electrònic comercial va ser posat al mercat per Siemens a la dècada del 1930.

La microscòpia electrònica es basa en la creació d'un flux d'electrons, els quals són accelerats i canalitzats en un flux. Quan impacten en la mostra, es reflecteixen i es difracten en funció de la composició de la matèria sobre la qual impacten. Arran d'aquest fet, es generen electrons secundaris, els quals donen lloc a les imatges observades.

En funció del tipus de comportament dels electrons secundaris es poden classificar en: microscopis electrònics de transmissió (TEM, acrònim anglès de transmision electron microscope) i microscopis electrònics de rastreig (SEM, acrònim anglès de scanning electron microscope).^[2]

En els microscopis electrònics de transmissió, els electrons secundaris s'originen per desviació o per desplaçament d'electrons de la mostra travessada, que prèviament ha estat fixada i tenyida amb materials electrodensos. La placa on els electrons secundaris impacten i generen la imatge òptica està sota la mostra.

En els microscopis electrònics de rastreig, els electrons secundaris s'originen per desplaçament d'electrons de la superfície de la mostra. Els receptors estan situats a la base del canó per sobre de la platina. La imatge generada és tridimensional, talment com una fotografia, podent-se observar diferents aspectes de la mostra segons l'orientació que es doni a la platina, en contraposició al TEM, en què les mostres són sempre làmines fines de material.

En aquest cas darrer cas, es poden treballar a augments similars a la microscòpia òptica, però eliminant-ne els efectes de difracció que provoquen els fotons.

A Wikimedia Commons hi ha contingut multimèdia relatiu a: Microscopi electrònic

• «Electron Microscope» (en anglès), 26-06-2011. [Consulta: 21 maig 2013].
• «Nanohedron». [Consulta: 4 novembre 2013]. «Lloc web dedicat a imatges de microscòpia electrònica i altres imatges d'objectes petits»
• Krumeich, F. «The Electron Microscopy Site» (en anglès). Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, 8 novembre 2012 (darrera modificació). [Consulta: 25 març 2014].